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變溫霍爾測量系統組成：本儀器系統由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統軟件組成。為本儀器系統專門研制的 JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。

教學霍爾測試儀 半導體材料電學測量 技術指標： 磁 場：10mm 間距為 2T 30mm 間距為 1T * 樣品電流：0.05uA~50mA（調節 0.1nA） * 測量電壓：0.1uV~30V * 提供各類測試標準材料，各級別硅與砷化鎵（靈敏度與精度不同） * 小分辨率：0.1GS * 磁場范圍：0-1T * 配合高斯計或數采板可計算機通訊

霍爾效應測試系統 高低溫磁場型實驗儀器 *精度電磁鐵 極頭直徑 100mm N，S 間距 10mm 時大磁場 20000Gs N，S 間距 20mm 時大 13000 高斯 N, S 間距 30mm 時大磁場 10000 高斯 均勻區：間距 60mm 時直徑 10mm 均勻度范圍;1% 自重 210 公斤（含支架及輪子）

霍爾效應測試系統低溫型測量儀JH60D 產品概述： 本儀器系統由：電磁鐵、電磁鐵電源、*精度恒流源*精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、系統軟件。為本儀器系統專門研制的 JH10效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。